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SWT-3072在线老化测试系统
SWT-3072 在线老化测试系统是专门为半导体激光器（LD TO)老化测试研发、设计的一款高密度模块化在线老 化测试系统。该系统采用具有专利技术的结构设计以及固捷测试软件平台，整合了业界领先的环境测试单元，为客户提 供高效、精确、稳定的量产老化测试能力。该系统可实时监控整个测试过程，数据完整可溯，可与工厂MES/PC可与 工厂MES/PCS系统无缝对接，实现个性化数据处理。
全国服务热线： 027-87618810
固捷产品详情页 《产品详情介绍》
产品特点
• 全 兼 容：针对TO46，TO56及其他封装类型的器件，可同时老化测试，支持混差盲插
• 驱动集成：最多3072个通道的恒流驱动集成设计
• 温度控制：独特风道设计，温度分布均匀（ ±3°），曲线可远程设置
• 独立控制：双独立腔体设计，各通道独立开关，独立限流，器件缓上电，防浪涌
• 实施性好：数据采集最小间隔15S，采样速率＞1000次/S
• EOS/ESD保护：EOS在线监控，ESD防护等级100V，支持断电保护
• 信息系统集成：图形化界面显示，数据接口可定制，与MES/FIS/PCS无缝对接
• 在线测试：在老化同时，可在线测量Ith及Liv等参数，对比其变化率
• 高灵活性：支持实验模式和普通模式
• 实时监控：在线实时监控器件电流和Vf
参数规格
