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老化SWA2000A 存储器(SSD)测试系统
发布时间:2018-08-31浏览次数:44

固态存储测试系统基于分布式集群架构和模块可扩展的逻辑树结构,开发支持多端口并行的硬件测试分析平台、缺陷快速测试分析软件、缺陷特征与固态存储性能、寿命、环境适应度等多维属性的分析方法软件,从而构建一套完整的固态存储快速测试系统。

       此测试系统特别针对固态存储介质缺陷耦合性大、探索复杂度高,数据存储稳定性、性能、寿命受温度、湿度、固态存储缺陷影响大;以及固态存储高速、低延迟的等特性。提供快速、统一、高效的测试系统,满足固态存储设备研发、生产和大规模应用的需求。

 

 

 

 

 

 


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