咨询
热线

SWT-3000 TO-CAN 老化测试系统

SWT-3000 TO-CAN 在线老化测试系统是专门为半导体激光器(LD TO)老化测试研发、设计的一款高密度模块化在线老 化测试系统。该系统采用具有专利技术的结构设计以及固捷测试软件平台,整合了业界领先的环境测试单元,为客户提 供高效、精确、稳定的量产老化测试能力。该系统可实时监控整个测试过程,数据完整可溯,可与工厂MES/PC可与 工厂MES/PCS系统无缝对接,实现个性化数据处理。
联系电话:027-87618810
  • 产品特点
  • 产品规格


• 全 兼 容:针对TO46,TO56及其他封装类型的器件,可同时老化测试,支持混差盲插

• 驱动集成:最多3072个通道的恒流驱动集成设计

• 温度控制:独特风道设计,温度分布均匀( ±3°),曲线可远程设置

• 独立控制:双独立腔体设计,各通道独立开关,独立限流,器件缓上电,防浪涌

• 实施性好:数据采集最小间隔15S,采样速率>1000次/S

•  EOS/ESD保护:EOS在线监控,ESD防护等级100V,支持断电保护

• 信息系统集成:图形化界面显示,数据接口可定制,与MES/FIS/PCS无缝对接

• 在线测试:在老化同时,可在线测量Ith及Liv等参数,对比其变化率

• 高灵活性:支持实验模式和普通模式

• 实时监控:在线实时监控器件电流和Vf




1.png

在线客服
联系电话
全国免费咨询热线 027-87618810
  • · 专业的设计咨询
  • · 精准的解决方案
  • · 灵活的价格调整
  • · 1对1贴心服务
在线留言
回到顶部